HEPS-TF电源、高精度光学元件压弯等五系统通过工艺测试
时间 : 2018-03-15     

2018年3月15日,高能同步辐射光源验证装置(HEPS-TF)工程加速器分总体电源、注入引出、高频系统和光束线站分总体的高精度光学元件压弯、纳米定位与检测系统等5个系统(子系统)通过了院条件保障与财务局(院条财局)组织的工艺测试。此次工艺测试在高能所3个实验厅(5号厅、6号厅、15号厅)内完成,测试组由来自上海应物所、近物所、中科大、清华大学等11家单位的20位专家组成。 

首先,院条财局彭良强研究员说明了测试会的具体安排,并介绍了HEPS-TF的预制研究属性和分批组织工艺测试的特殊性,他提到,国家重大科技基础设施“十三五”优先建设项目——高能同步辐射光源(HEPS)已完成可行性研究报告的院内评审,预计将于2018年底开工,而作为HEPS项目的技术基础,HEPS-TF的研制质量至关重要,请与会专家对各系统的性能测试进行严格把关。 

专家组听取了各系统的工艺测试报告,讨论形成了测试大纲,完成了现场测试,并依据测试结果形成一致意见:HEPS-TF项目电源、注入引出、高频、高精度光学元件压弯、纳米定位与检测5个系统(子系统)研制样机的各项指标均达到或优于国家发展改革委批复的设计指标。 

工程副经理罗小安对专家组的莅临指导和高效率的工作表示衷心感谢,并提出将加快推进其他各系统的研制进度,力争按期、保质完成项目研制任务,保证HEPS-TF和HEPS项目的顺利衔接。

  
电源系统工艺测试现场-5号厅实验隧道 
 

注入引出系统工艺测试现场-5号厅特磁实验室 
 

高频系统工艺测试现场-6号厅

  
高精度光学元件压弯子系统工艺测试现场-15号厅X射线光学实验室K1 
 

纳米定位与扫描系统工艺测试现场-15号厅X射线光学实验室K2 
HEPS-TF设施提供 
原文链接:http://www.ihep.cas.cn/xwdt/gnxw/2018/201803/t20180319_4977621.html