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散裂中子源反角白光中子实验装置通过性能测试和成果鉴定
时间 : 2020-11-15     

2020年11月14日和15日,中国科学院高能物理研究所在东莞分部对中国散裂中子源(CSNS)上反角白光中子实验装置(Back-n)分别组织性能测试会和成果鉴定会,清华大学王学武教授担任由9位国内专家组成的性能测试专家组组长,中国原子能科学研究院张焕乔院士担任由包括6位院士在内的成果鉴定组组长。Back-n是高能所联合4家国内单位共同建设的,是国内首个高强度和宽连续能谱的高性能白光中子源,在多方支持下,已于2018年3月与CSNS主体工程同步建成,并投入开放运行。 

CSNS工程总指挥陈和生院士、高能所副所长陈延伟研究员对参加测试会和鉴定会的专家表示欢迎和感谢。性能测试专家组听取了唐靖宇研究员代表项目组作的报告,对装置的主要性能进行了现场测试或对项目组自测试结果进行了认定。成果鉴定专家组听取了项目组的研制报告和成果汇报,听取和核对了测试专家组的报告,认为Back-n综合性能处于国际前列,部分指标国际领先,其中,利用质子束打靶反角方向的中子束流建设了白光中子束线为国际上首创,距靶等距离的中子注量率为国际上白光中子源的最高水平。 

该装置开放运行以来,运行高效,在中子核数据测量、中子探测器标定、中子辐射效应等研究和应用方面高效地开展了实验,为我国的国家相关领域的战略需求和基础前沿研究、以及芯片事业发展提供了急需的研究平台。

 
性能测试专家组与项目成员合影

 
成果鉴定专家组与项目成员合影